2026年9月13日～214日に嬉野温泉和楽園（佐賀県嬉野市）で開催されたd.lab-VDEC デザイナーズフォーラム2026において，馬崎 武雄 君（M2）が研究成果を発表しました．

• 馬崎 武雄 ”細粒度電源ドメイン分割によるハードウェアトロイ検出機構” (推薦者：塩見準)

本デザイナーズフォーラムでは、馬崎君がd.lab-VDEC デザインアワード奨励賞を受賞しました。同賞に対する詳細はこちらを参照。

2026年8月26日～28日にゆのくに天祥（石川県加賀市）で開催されたDAシンポジウム2026において，西田 孔太 君（D1），馬崎 武雄 君（M2）が研究成果を発表しました．

• 西田 孔太，御堂 義博，三浦 典之，川上 哲志，Alex Orailoglu，塩見 準，”光ニューラルネットワークへのレーザ故障注入攻撃に対する実行時検知システムの設計空間探索”
• 馬崎 武雄，石川 貴大，御堂 義博，三浦 典之，新谷 道広，塩見 準，”細粒度電源ドメイン分割のハードウェアトロイ検出効率と分割数のトレードオフ解析”

また，松林 由佑 君（M2）はアルゴリズムデザインコンテストで成果を発表しました．

本シンポジウムでは冨永 孝太郎 君（発表時M2）がDAシンポジウム2025における優秀発表賞及び優秀論文賞，西田 孔太 君がDAシンポジウム2025におけるIEEE CEDA AJJC Academic Research Award及び優秀発表賞，馬崎 武雄 君がDAシンポジウム2025におけるセッション特別賞を受賞しました．また，松林君がアルゴリズムデザインコンテスト ハードウェア最優秀賞を受賞しました．

2026年9月13日〜18日にトロントで開催された IEEE Quantum Week 2026 にて中島隆一 特任助教が研究成果を発表しました．

Ryuichi Nakajima, Jun Shiomi, “Demonstrating Low-Voltage Operation of Standard-Cell Memories for Cryo-CMOS Circuits”.

2026年8月31日から9月4日にイギリス リバプールにて開催された第21回国際顕微鏡学会議(IMC21)において、中道翔太 君(M2)が口頭＆ポスター発表、新谷爽太 君(M1)がポスター発表を行いました。

• Shota Nakamichi, Yoshihiro Midoh, Jun Shiomi, Noriyuki Miura, “Text-Prompted Generative AI for Synthetic Electron Microscopy Image Generation,” The 21st International Microscopy Congress (IMC21), IP2 208, Aug. 2026.
• Sota Shintani, Yoshihiro Midoh, Jun Shiomi, Yasukazu Murakami, Noriyuki Miura, “Visualization of Catalyst-Induced Effects on Nanoparticle Crystal Structures via Interpretable STEM Image Classification,” The 21st International Microscopy Congress (IMC21), IP2 209, Aug. 2026.

2026年5月25日から27日に仙台国際センターにて開催された日本顕微鏡学会学術講演会において、御堂義博 特任准教授, 中道翔太 君(M2)が口頭発表を行いました。

中道翔太, 御堂義博, 塩見 準, 三浦典之, “SEM画像生成AIモデルによる雑音特性の再現性評価,” 第82回日本顕微鏡学会学術講演会, 2F_S-6_05, May 2026. (宮城)

御堂義博, 佐伯 哲平, 村上 恭和, “干渉縞の物理的制約を考慮したNoise2Noiseによる電子線ホログラムの雑音低減,” 第82回日本顕微鏡学会学術講演会, 3F_S-6_18, May 2026. (宮城)

2026年5月4日～8日にスペインのバルセロナで開催された、2026 IEEE International Conference on Acoustics, Speech, and Signal Processing (ICASSP 2026) にて成瀬 厚太郎 (D2) 君が研究成果を発表しました。

“A Light-Weight PRNU-Based Camera-Device Authentication Based on Device-Specific Image Downsampling”
K. Naruse¹, N. Nishimura¹, H. Sasaki¹, Y. Midoh¹, J. Shiomi¹, Y. Tanaka¹, M. Kuribayashi², N. Miura<sup>1

1</sup>The University of Osaka
²Tohoku University

2026年4月20日~22日にイタリアで開催された 4^th Workshop on Nano Security: From Nano-Electronics to Secure Systems (NanoSec’26) co-located with Design Automation and Test in Europe (DATE) Conference. で，松林 由佑君(M2)が研究成果を発表しました．

Yusuke Matsubayashi, Kazuki Minamiguchi, Hirose Nishikawa, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Jun Shiomi, “Modeling of Tamper Resistance to Correlative Electromagnetic Analysis for Voltage-scaled Circuit,” 4^th Workshop on Nano Security: From Nano-Electronics to Secure Systems (NanoSec’26) co-located with Design Automation and Test in Europe (DATE) Conference, Apr. 2026.

西田孔太君（M2）が令和7年度 大阪大学情報科学研究科賞を受賞しました．本賞は情報科学研究科を優秀な成績で修了した博士前期課程の学生に対して，在学中における努力と業績を称えて表彰されるものです．受賞者は，各専攻から1名，研究科全体で1年間に7名選出されます．

2026年3月4日~3月7日に開催された電子情報通信学会 HWS・VLD・ICD合同研究会（みんなの貸会議室 那覇旭町店）において、西田孔太君(M2)と長谷川侑大君(B4)と山脇颯太君(B4)が研究成果を発表しました。

• Kota Nishida, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Satoshi Kawakami, Alex Orailoglu, Jun Shiomi, “［記念講演］PrometheusFree: Concurrent Detection of Laser Fault Injection Attacks in Optical Neural Networks,” 信学技報, vol. 125, no. 382, VLD2025-92, pp. 97-97, 2026年3月. (招待有)
• 長谷川侑大, 西田孔太, 御堂義博, 三浦典之, 高橋順子, 北翔太, 新家昭彦, 塩見準, “光暗号回路のレーザー故障注入攻撃に対する耐性評価,” 信学技報, vol. 125, no. 383, HWS2025-92, pp. 112-117, 2026年3月.
• 山脇颯太, 御堂義博, 三浦典之, 新谷道広, 松尾亮祐, 御手洗光祐, 塩見準, “超伝導量子計算機に対するソフトウェア・ハードウェア複合型トロイを用いた改ざん攻撃,” 信学技報, vol. 125, no. 382, VLD2025-109, pp. 187-192, 2026年3月.

また西田君は Excellent Student Author Award for ASP-DAC 2026 を受賞しました。国際学会 ASP-DAC 2026 での発表に対する表彰です。同賞に対する詳細はこちらを参照。

• IEICE VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 2026 (Kota Nishida) “PrometheusFree: Concurrent Detection of Laser Fault Injection Attacks in Optical Neural Networks,” ASP-DAC2026.

2026年2月23日～2月26日にサンノゼで開催されたSPIE Advanced Lithography+Patterningにおいて、 村上慎治(M2)君が研究成果を発表しました。

• Shinji Murakami, Yoshihiro Midoh, Masahiro Oya, Yosuke Okamoto, Shinichi Nakazawa, Kotaro Maruyama, Yuichiro Yamazaki, Noriyuki Miura, “Occlusion-aware pattern measurement for see-through BSE images of HV-SEM via contour- and pixel-based approaches”