海外研修@南カリフォルニア大学

2024年6月1日~6月28日に成瀬君(M2)と日東君(M2)が南カリフォルニア大学のACME Labに訪問し、Constantine Sideris先生・現地学生らと研究交流を行いました。今回の滞在を通して、各々が取り組むセンサー回路設計に関する研究の進展に加え、慣れない海外での生活を経験することができ、非常に有意義な研修となりました。

日本顕微鏡学会にて村上慎治君(M1)が発表

2024年6月3日から5日に幕張メッセにて開催された日本顕微鏡学会学術講演会において、村上慎治君(M1)が口頭発表を行いました。

村上慎治, 大家政洋, 岡本陽介, 中澤伸一, 丸山浩太郎, 山崎裕一郎, 御堂義博, 三浦 典之, “高加速SEM画像を用いた半導体多層構造からのパターン計測が可能な輪郭抽出法,” 第80回日本顕微鏡学会学術講演会, 3pmC_I-7-02, Jun. 2024.(千葉)

日本耳鼻咽喉科頭頸部外科学会にて御堂 特任准教授が発表

2024年5月15日から18日に大阪国際会議場にて開催された第125回日本耳鼻咽喉科頭頸部外科学会総会・学術講演会において、御堂 特任准教授がパネルディスカッション「代用音声新世紀 ―失った声を取り戻す―」に登壇されました。

御堂義博, 伊勢拓真, 北山一樹, 細川清人, 猪原秀典, 三浦典之 “機械読唇による自然な日本語の発話を目指して”

LSI とシステムのワークショップ 2024 にて松尾 亮祐 特任助教が発表

2024年5月9日~5月10日に東京大学武田先端知ビル(東京都文京区)で開催された LSIとシステムのワークショップ2024 にて松尾 亮祐 特任助教がポスター発表を行いました.

松尾亮祐,小川和久,塩見英久,根来誠,大平龍太郎,三好健文,新谷道広,粟野皓光,佐藤高史,塩見準,”超伝導量子ビットのための低コスト制御回路アーキテクチャ”

SASIMI 2024 にて南口和生君 (M2) がOutstanding Paper Awardを受賞

2024年3月11日~12日に台北で開催された The 25th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI 2024) で、南口和生君(M2)が Outstanding Paper Award を受賞しました。

  • Kazuki Minamiguchi, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Jun Shiomi, “Voltage Dependence Model of Electromagnetic Side-Channel Attacks on Cryptographic Circuits,” SASIMI 2024 Proceedings, pp. 361-366, 2024年3月.

HWS・VLD・ICD合同研究会(2/28-3/2)

2024年2月28日~3月2日に開催された電子情報通信学会 HWS・VLD・ICD合同研究会(沖縄県男女共同参画センター)において、南口和生君(M2)と西邨なぎささん(B4)が研究成果を発表しました。

また南口君は Excellent Student Author Award for ASP-DAC 2024 を受賞しました。国際学会 ASP-DAC 2024 での発表に対する表彰です。同賞に対する詳細はこちらを参照。

  • IEICE VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 2024 (Kazuki Minamiguchi) “Modeling of Tamper Resistance to Electromagnetic Side-channel Attacks on Voltage-scaled Circuits,” ASP-DAC2024.
  • Kazuki Minamiguchi, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Jun Shiomi, “[記念講演]Modeling of Tamper Resistance to Electromagnetic Side-channel Attacks on Voltage-scaled Circuits,” 信学技報, vol. 123, no. 390, VLD2023-117, pp. 99-99, 2024年2月. (招待有)
  • 西邨なぎさ, 成瀬厚太郎, 塩見準, 御堂義博, 三浦典之, ”インフラ監視カメラ用計測セキュリティ技術の実機評価,” 信学技報, vol. 123, no. 391, HWS2023-96, pp. 196-197, 2024年2月.

SPIE Advanced Lithography+Patterningで大家政洋さん (ナノスコピック半導体DX共同研究講座 特任研究員)が発表

2024年2月25日~2月29日にサンノゼで開催されたSPIE Advanced Lithography+Patterningにおいて、 大家政洋さん (ナノスコピック半導体DX共同研究講座 特任研究員)が研究成果を発表しました。

  • Masahiro Oya, Yosuke Okamoto, Shinichi Nakazawa, Kotaro Maruyama, Yuichiro Yamazaki, Shinji Murakami, Yoshihiro Midoh, and Noriyuki Miura, “Utilization of active contour model with 3D-SEM simulation for see-through BSE image of high voltage SEM”, Proc. SPIE 12955, Metrology, Inspection, and Process Control XXXVIII, 129550R, Feb. 2024, DOI: 10.1117/12.3011075

ASP-DAC 2024 にて2件の論文を発表

2024年1月22日~1月25日に韓国で開催されたASP-DAC2024において、松尾亮祐 特任助教 と 南口和生君(M2)が研究成果を発表しました。

  • Ryosuke Matsuo, Rudy Raymond, Shigeru Yamashita, Shin-ichi Minato, “Optimizing Decision Diagrams for Measurements of Quantum Circuits,” 29th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), pp. 134 – 139, Jan. 2024.
  • Kazuki Minamiguchi, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Jun Shiomi, “Modeling of Tamper Resistance to Electromagnetic Side-channel Attacks on Voltage-scaled Circuits,” 29th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), pp. 618 – 624, Jan. 2024.

Electronic Imaging2024で西原 大地 君(M2)が発表

2024年1月21日~1月25日にサンフランシスコで開催されたElectronic Imaging2024において、西原 大地 君(M2)が研究成果を発表しました。

  • Daichi Nishihara, Yoshihiro Midoh, Youyang Ng, Osamu Yamane, Maasa Takahashi, Shuhei Iijima, Jun Shiomi, Goh Itoh, and Noriyuki Miura, “Open Set Domain Adaptation for Image Classification with Multiple Unknown Labels Using Unsupervised Clustering in a Target Domain,” Electronic Imaging 2024, COIMG-162, Jan. 2024.

IEEE CCNC 2024 にて高田 樹 君 (M2) がBest Student Paper Awardを受賞

2024年1月6日~1月9日にラスベガスで開催されたIEEE Consumer Communications & Networking Conference 2024で、高田 樹 君 (M2) が Best Student Paper Awardを受賞しました。

・“Edge-oriented Point Cloud Compression by Moving Object Detection for Realtime Smart Monitoring”
Itsuki Takada1, Daiki Nitto1, Yoshihiro Midoh1, Noriyuki Miura1, Jun Shiomi1, Ryoichi Shinkuma2

1 Osaka University, Japan , 2 Shibaura Institute of Technology, Japan