2025年10月9日~10日に奈良で開催された The 26th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI 2025) で，西田 孔太君(M2)が研究成果を発表しました．

Kota Nishida, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Satoshi Kawakami, Alex Orailoglu, Jun Shiomi, “Concurrent Detection of Multiple Thermal Fault Injection Attacks on Optical Neural Networks,” SASIMI 2025 Proceedings, pp. 272-277, Oct. 2025.

2025年8月27日～29日にゆのくに天祥（石川県加賀市）で開催されたDAシンポジウム2025において，冨永 孝太郎 君（M2），西田 孔太 君（M2），松林 由佑 君（M1），馬崎 武雄 君（M1）が研究成果を発表しました．

• 冨永 孝太郎，御堂 義博，三浦 典之，新谷 道広，塩見 準，”低温環境におけるラッチ回路の動作安定性解析”
• 西田 孔太，御堂 義博，三浦 典之，川上 哲志，Alex Orailoglu，塩見 準，”光ニューラルネットワークに対する複数箇所にわたる熱故障注入攻撃の実行時検知”
• 馬崎 武雄，石川 貴大，御堂 義博，三浦 典之，新谷 道広，塩見 準，”細粒度電源ドメイン分割による非活性ハードウェアトロイの検出”
• 松林 由佑，南口 和生，西川 広記，御堂 義博，三浦 典之，塩見 準，”低電圧回路への電磁波解析攻撃に対する耐タンパ性の解析モデル”

また，松林君はアルゴリズムデザインコンテストでも成果を発表しました．

• 松林 由佑，塩見 準，”局所的パターンマッチングによるマインスイーパーの高速推論”

本シンポジウムでは石川 貴大 君（発表時M2），冨永君がDAシンポジウム2024におけるセッション特別賞，西田君がデザインガイア2024におけるセッション特別賞を受賞しました．また，西田君，馬崎君が本シンポジウムでの優秀ポスター発表賞，松林君がアルゴリズムデザインコンテスト ハードウェア最優秀賞を受賞しました．

2025年7月10日に、九州大学大学院工学研究院の麻生亮太郎准教授、村上恭和教授、佐野弘貴氏(博士前期課程)、九州大学超顕微解析研究センターの玉岡武泰助教(現:株式会社東レリサーチセンター)、大阪大学産業科学研究所の吉田秀人准教授、九州大学大学院総合理工学研究院の永長久寛教授、北條元准教授、大阪大学大学院情報科学研究科の御堂義博特任准教授(常勤)、株式会社日立製作所研究開発グループの谷垣俊明主管研究員らの共同研究成果がAdvanced Science (IF=14.1) に掲載されました。九州大学および大阪大学、JSTよりプレスリリースされています。

• Ryotaro Aso, Takehiro Tamaoka, Hideto Yoshida, Hajime Hojo, Hiroki Sano, Yoshihiro Midoh, Hisahiro Einaga, Toshiaki Tanigaki, Yasukazu Murakami, “Direct Visualization of Surface Structure and Charge States of Ceria-Supported Gold Catalysts Under Redox Conditions,” Advanced Science, e08554, Jul. 2025. DOI: 10.1002/advs.202508554

2025年6月22日～25日に米国カリフォルニア州サンフランシスコにて開催されたDAC 2025において、西田 孔太 君（M2）が研究成果を発表しました。

Kota Nishida, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Satoshi Kawakami, Jun Shiomi, “SecONN: An Optical Neural Network Framework with Concurrent Detection of Thermal Fault Injection Attacks”.

DAC 2025の後に、西田君と塩見准教授がカリフォルニア大学サンディエゴ校（University of California, San Diego）を訪問し、同大学の Alex Orailoglu 教授と技術ディスカッションを行いました。

2025年5月13日～5月14日に東京大学武田先端知ビル（東京都文京区）で開催された LSIとシステムのワークショップ2025 にて加藤 成（M1）君、西田 孔太（M2）君、馬崎 武雄（M1）君、松林 由佑（M1）君がポスター発表を行いました．

• 加藤成, 成瀬厚太郎, 松森拓馬, 塩見準, 御堂義博, 廣瀬哲也, 今村岳, 吉川元起, 三浦典之, “MSS-CMOS三次元積層マルチモーダル嗅覚デバイスによるニオイ解析”
• 西田孔太，御堂義博，三浦典之，川上哲志，Alex Orailoglu，塩見準，”熱故障注入攻撃を実行時に検知する耐タンパ光ニューラルネットワークの検討”
• 馬崎武雄, 石川貴大, 御堂義博, 三浦典之, 新谷道広, 塩見準, “細粒度電源ドメイン分割による非活性ハードウェアトロイ検出技術の検討”
• 松林由佑, 南口和生,西川広記, 御堂義博, 三浦典之, 塩見準　”暗号回路への電磁波解析攻撃に対する耐タンパ性の電源電圧依存性評価”

2025年6月9日から11日に福岡国際会議場にて開催された日本顕微鏡学会学術講演会において、中道 翔太(M1)が口頭発表を行いました。

中道翔太, 御堂義博, 淺野修一朗, 塩見 準, 三浦典之, “SEM画像生成AIを用いた半導体パターン寸法計測,” 第81回日本顕微鏡学会学術講演会, 1D_IMB-7_10, Jun. 2025. (福岡)

2025年5月1日～2日に米国カリフォルニア州シーサイドにて開催されたTau 2025において、冨永 孝太郎 君（M2）が研究成果を発表しました。

Kotaro Tominaga, Ryosuke Matsuo, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Michihiro Shintani and Jun Shiomi, “Ternary logic operation of CMOS inverters under low-temperature and low-voltage conditions,” Tau2025, pp. 36-42, May 2025.



Tau2025の後に、冨永君と塩見准教授がテキサス大学ダラス校 (University of Texas at Dallas) を訪問し、同大学の Yiorgos Makris 教授、Benjamin Carrion Schaefer 准教授と技術ディスカッションを行いました。

2025年1月27日～2月28日に西田君（M1）が，2月14日～2月28日に石川君（M2）がカリフォルニア大学サンディエゴ校を訪問し，Alex Orailoglu先生・現地学生と研究交流を行いました．今回の滞在では，各々が取り組むハードウェアセキュリティの研究を進展させました．また，慣れない海外生活を経験し，非常に有意義な研修となりました．

2025年3月5日~3月8日に開催された電子情報通信学会 HWS・VLD・ICD合同研究会（みんなの貸会議室 那覇旭町店）において、石川貴大君(M2)と成瀬厚太郎君(M2)と加藤成君(B4)が研究成果を発表しました。

• 石川貴大, 御堂義博, 三浦典之, 新谷道広, 塩見準, “ハードウェアトロイ検出を可能にする細粒度電源ドメイン分割回路の低コスト化,” 信学技報, vol. 124, no. 400, VLD2024-127, pp. 138-143, 2025年3月.
• 成瀬厚太郎, 御堂義博, 三浦典之, “デバイス固有性を利用した監視カメラ用計測セキュリティ技術の拡張性評価,” 信学技報, vol. 124, no. 401, HWS2024-111, pp. 212-213, 2025年3月.
• 加藤成, 成瀬厚太郎, 松森拓馬, 塩見準, 御堂義博, 廣瀬哲也, 今村岳, 吉川元起, 三浦典之, “MSS-CMOS三次元積層による小型マルチモーダル嗅覚デバイス,” 信学技報, vol. 124, no. 402, ICD2024-124, pp. 172-175, 2025年3月.

2025年2月23日～2月27日にサンノゼで開催されたSPIE Advanced Lithography+Patterningにおいて、 大家政洋さん (招へい研究員)と淺野 修一朗(M2)君が研究成果を発表しました。

• Masahiro Oya, Yosuke Okamoto, Shinichi Nakazawa, Kotaro Maruyama, Yuichiro Yamazaki, Shinji Murakami, Yoshihiro Midoh, and Noriyuki Miura, “Advanced pattern contour extraction function for see-through BSE images of high voltage SEM”
• Shuichiro Asano, Yoshihiro Midoh, Jun Shiomi, and Noriyuki Miura, “A comparison of generative AI models for the top-down SEM image of line and space pattern”