2026年5月25日から27日に仙台国際センターにて開催された日本顕微鏡学会学術講演会において、御堂義博 特任准教授, 中道翔太 君(M2)が口頭発表を行いました。
中道翔太, 御堂義博, 塩見 準, 三浦典之, “SEM画像生成AIモデルによる雑音特性の再現性評価,” 第82回日本顕微鏡学会学術講演会, 2F_S-6_05, May 2026. (宮城)
御堂義博, 佐伯 哲平, 村上 恭和, “干渉縞の物理的制約を考慮したNoise2Noiseによる電子線ホログラムの雑音低減,” 第82回日本顕微鏡学会学術講演会, 3F_S-6_18, May 2026. (宮城)
