平成28年度 (2016年度)

論文

  1. S. Miyake, and K. Nakamae, “A quantum watermarking scheme using simple and smallscale quantum circuits,” Quantum Information Processing, vol. 15, pp. 1849-1864, 2016.
  2. K. Fukuhara, M. Suzuki, M. Mitsuyasu, T. Komukai, M. Hatano, T. Kono, T. Nakasugi, Y. Lim, W. Jung, K. Nakamae, “Overlay improvement in nanoimprint lithography for 13-nm patterning,” Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena, vol. 34, no. 6, pp. 06K405-1-5, 2016.
  3. M. Harada, K. Obara, and K. Nakamae, “A robust SEM auto-focus algorithm using multiple band-pass filters,” Measurement Science and Technology, vol. 28, pp. 015403-1-10, 2016.
  4. M. Koguchi, R. Tsuneta, Y. Anan, and K. Nakamae, “Analytical electron microscope based on scanning transmission electron microscope with wavelength dispersive x-ray spectroscopy to realize highly sensitive elemental imaging especially for light elements,” Measurement Science and Technology, vol. 28, pp. 015904-1-9, 2016.

国際会議(査読付き)

  1. K. Endo, S. Nagamine, W. Saito, T. Matsudai, T. Ogura, T. Setoya, and K. Nakamae, “Direct Photo Emission Motion Observation of Current Filaments in the IGBT under Avalanche Breakdown Condition,” The 28th IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD 2016), pp. 367–370, 2016.

国内会議(査読付き)

  1. 三宅聡士,御堂義博,中前幸治,“畳み込みニューラルネットワークを用いた単一SEM画像高画質化”,第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 119-124,9-11 Nov. 2016.
  2. 御堂義博, 飯田悠介, 濱口 晶, 井田知宏, 中前幸治,“SEM シミュレーションとAI画像解析を用いた微細ラインパターン寸法計測の高精度化の検討”,第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 125-129,9-11 Nov. 2016.
  3. 堤 勇人, 御堂義博, 中前幸治,“三次元電子顕微鏡像からの生体細胞構造認識のためのマルチクラス領域分割法の検討(2)”, 第36 回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 131-135,9-11 Nov. 2016.
  4. 有田亘佑, 御堂義博, 中前幸治,“細胞培養時スクリーニングのためのコロニー輪郭自動抽出手法”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 137-141,9-11 Nov. 2016.
  5. 足立健太, 御堂義博, 中前幸治,“機械学習を用いた電子顕微鏡連続断面像からのミトコンドリア検出手法”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 143-148,9-11 Nov. 2016.
  6. 遠藤幸一, 中村共則, 松本 徹, 越川一成, 中前幸治,“熱反射率光学プローブ法を用いた半導体デバイスの熱挙動解析”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 149-154,9-11 Nov. 2016.
  7. 井野昂宜, 三浦克介, 中前幸治,“故障解析装置を用いた攻撃に対する耐攻撃設計AES暗号化回路の評価”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 161-166,9-11 Nov. 2016.
  8. 世古充樹, 三浦克介, 中前幸治,“閾値電圧ばらつきによるオフ電流発光変動考慮エミッション顕微鏡像シミュレーション”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 167-172,9-11 Nov. 2016.

研究会

  1. 御堂義博,“電顕画像からのミトコンドリアの自動抽出”,ナノテスティング学会第1回生物計測応用研究会,June 2016.
  2. 御堂義博,“細胞培養時スクリーニングのための細胞画像の自動領域分割法”, ナノテスティング学会第2回生物計測応用研究会,November 2016.

学術講演会

  1. 御堂義博, 三浦克介, 村上恭和, 中前幸治, “ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音低減”, 第64回応用物理学会春季学術講演会予稿集,14p-424-8, 14-17 March 2017.
  2. 三浦克介, 御堂義博, 村上恭和, 中前幸治, “弛緩法を用いた電子線ホログラム像の干渉縞欠損修復”, 第64回応用物理学会春季学術講演会予稿集,14p-424-9, 14-17 March 2017.