平成27年度 (2015年度)

論文

  1. S. Miyake, and K. Nakamae, “A quantum watermarking scheme using simple and small-scale quantum circuits,” Quantum Information Processing, doi::10.1007/s11128-016-1260-9, 2016.

国内会議(査読付き)

  1. 岡本直幸, 御堂義博, 中前幸治, “連続ウェーブレット変換とマルコフ確率場を用いた単一SEM画像の学習型超解像度化”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.117-121, 11-13 Nov. 2015.
  2. 御堂義博, 三津屋陽介, 西 竜治, 中前幸治, “電子線トモグラフィーのためのサポートベクトル回帰を用いたTEM動画像高解像度化手法”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.151-156, 11-13 Nov. 2015.
  3. 堤 勇人, 御堂義博, 中前幸治, “三次元電子顕微鏡像からの生体細胞構造認識のためのマルチクラス領域分割法の検討”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.157-162, 11-13 Nov. 2015.
  4. S. Miyake and K. Nakamae, “A quantum watermarking scheme using simple and small-scale quantum circuits,” in Proc. 35th Annual NANO Testing Symposium (NANOTS 2015), pp.163-168, 11-13 Nov. 2015.
  5. 三浦克介, 田中太樹, 鈴木泰昌, 中前幸治, “3次元NoCにおけるNBTI劣化抑制ルーティン グアルゴリズム”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.179-184, 11-13 Nov. 2015.
  6. 三浦克介, 大林智幸, 中前幸治, “物理解析装置を用いたスキャン設計 AES 暗号化回路への攻撃に対する耐攻撃設計”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.185-190, 11-13 Nov. 2015.
  7. K. Endo, K. Norimatsu, T. Setoya, T. Nakamura, T. Matsumoto, K. Koshikawa, and K. Nakamae, “Detailed thermal analysis of semiconductor devices with optical probed thermo-reflectance image mapping (OPTIM),” in Proc. 35th Annual NANO Testing Symposium (NANOTS 2015), pp.233-238, 11-13 Nov. 2015.

学術講演会

  1. 井野昂宜, 三浦克介, 中前幸治, “故障解析装置を用いた AES 暗号化回路への攻撃手法と耐攻撃設計の評価”, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, no.A-7-14, 15-18 March 2016.