平成26年度 (2014年度)

国際会議(査読付き)

  1. K. Endo, K. Norimatsu, K. Nakashima, T. Setoya, S. Nagamine, T. Nakamura, K. Koshikawa,and K. Nakamae, “Time resolved emission observation from top surface in avalanche breakdown of power MOSFET,” in Proc. IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Hawaii, USA. pp. FA–3, 1–5 Jun. 2014.
  2. Y. Midoh, R. Nishi, M. N. Shirazi, Y. Kamakura, Y. Inoue, J. Miura, and K. Nakamae, “HawkC: computer-aided 3D visualization and analysis software for electron tomography,” in Proc. 18th International Microscopy Congress (IMC),Prague, Czech Republic, 7-12 Sep. 2014.

国内会議(査読付き)

  1. 遠藤幸一,則松研二,中嶋克徳,瀬戸屋孝,長峰真嗣,中村共則,越川一成,中前幸治,“時間分解エミッション顕微鏡を用いたChip 表面からのPower MOSFET アバランシェ降伏電流の観察,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.41–46,12–14 Nov. 2014.
  2. 飯田悠介,御堂義博,濱口晶,井田知宏,阿部秀昭,中前幸治,“モンテカルロSEMシミュレーションを用いた帯電現象の研究,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.183–188,12–14 Nov. 2014.
  3. 三浦克介,御堂義博,豊田康隆,牛場郭介,篠田伸一,中前幸治,“分水嶺アルゴリズムと機械学習を利用した半導体電子顕微鏡画像計測の為のライン抽出法,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.189–194,12–14 Nov. 2014.
  4. 御堂義博,中前幸治,“離散コサイン変換を用いた単一SEM 画像の学習型超解像度化,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.195–198,12–14 Nov. 2014.
  5. 三津屋陽介,御堂義博,西竜治,中前幸治,“TEM 動画像を用いた電子線トモグラフィーの検討,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.199–204,12–14 Nov. 2014.
  6. 御堂義博,中前幸治,“非線形Total Variation に基づくTEM像の雑音低減法と電子線トモグラフィーへの応用,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.205–210,12–14 Nov. 2014.
  7. 桃田快,遠藤幸一,御堂義博,三浦克介,中前幸治,“マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.235–240,12–14 Nov. 2014.
  8. 高口雅成,阿南義弘,中前幸治,“STEM-WDX による極系元素の高感度組成分布評価技術,”ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.247–249,12–14 Nov. 2014.
  9. 福田尚稀,中前幸治,“Dependence of quantum error correction selection criteria on qubits concentration in an ion trap quantum computer,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.263–268,12–14 Nov. 2014.
  10. 三浦克介,則松研二,中前幸治,“ソフトウェア故障診断結果とそれに基づく局所的なレイアウト抽出回路を用いた発光解析支援システムの検討,” ナノテスティングシンポジウム/2014会議録,p.269–273,12–14 Nov. 2014.

研究会

  1. 御堂義博, “絶縁膜帯電シミュレーションにおけるパラメータ依存性の検討,” ナノテスティング学会第4回先端計測技術研究会,22 Aug. 2014.
  2. 桃田 快,遠藤幸一,御堂義博,三浦克介,中前幸治,“マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測,” 信学技報, vol.114, no.314, R2014-61, pp.1–5, 20 Nov. 2014.
  3. 御堂義博, ” 縁膜帯電現象:シミュレーションと実験の比較,” ナノテスティング学会第4回先端計測技術研究会,30 Jan. 2015.

学術講演会

  1. 御堂義博, 三浦克介, 豊田康隆, 中前幸治, “自己組織化リソグラフィにおける微細ラインパターン画像処理(I),” 電子情報通信学会基礎・境界ソサイエティ大会, A–4–3, 23–26 Sep. 2014.