平成22年度 (2010年度)

論文

  1. Sachiko Kobayashi, Suigen Kyoh, Toshiya Kotani, Yoko Takekawa, Soichi Inoue, and Koji Nakamae, "Full-Chip Layout Optimization for Process Margin Enhancement Using Model-Based Hotspot Fixing System," Jpn. J. Appl. Phys., vol. 49, pp. 06GB02-1-6 (2010).
  2. Ryo Nakagaki , Yuji Takagi and Koji Nakamae, "Automatic recognition of circuit patterns on semiconductor wafers from multiple scanning electron microscope images," '''Measurement Science and Technology, vol. 21, pp. 085501-1-14 (2010).
  3. H. Shinada, Y. Midoh, T. Shimakura and K. Nakamae, "Determining magnetic fields close to airbearing surface by projection electron-beam tomography and Fourier extrapolation," The Journal of Control, Measurement, and System Integration, vol. 3, no. 4, pp. 223-228 (2010).

国際会議(査読付き)

  1. T. Notsu, K. Miura, K. Nakamae, "Enhancement of Defect Tolerance in the QCA-based Programmable Logic Array (PLA)," Nanotech Conference & Expo 2010, pp. 29- 32, Anaheim, CA, USA (June 21-24, 2010).
  2. M. Yamashita, C. Otani, T. Matsumoto, Y. Midoh, K. Miura, K. Nikawa, K. Nakamae, and M. Tonouchi, "Non-bias inspection of electrical failures in LSI interconnects using LTEM prototype system," The 35th International Conference on Infrared, Millimeter and THz Waves (IRMMW-THz 2010), Mo-P.60, Rome, Italy (September 5-10, 2010).
  3. Y. Midoh, F. Hayashi, K. Nakamae, "Three-dimensional reconstruction from microscope tilt-series images using object tracking based on particle filter," The 17th International Microscopy Congress (IMC17), M17.5, Rio de Janeiro, Brazil (September 19-24 2010).

著書

解説・その他

国内会議(査読付き)

  1. 林 史也, 御堂義博, 中前幸治, “試料傾斜角の異なる複数枚SEM 画像からの三次元形状計測, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 85–90 (10–12 Nov. 2010).
  2. 三浦克介, 二川 清, 中前幸治, “電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID 顕微鏡によるVLSI 診断法”, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 187–192 (10–12 Nov. 2010).
  3. 野津孝行, 三浦克介, 中前幸治, “量子ドットセルオートマトンPLA の耐欠陥性評価”, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 193–198 (10–12 Nov. 2010).
  4. 山下将嗣, 大谷知行, 松本 徹, 三浦克介, 中前幸治, 二川 清, 斗内政吉, “レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるLSI チップの非接触測定”, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 255–260 (10–12 Nov. 2010).
  5. 御堂義博, 山下将嗣, 松本 徹, 二川 清, 中前幸治, “LSI 故障解析のためのレーザーテラヘルツエミッション顕微鏡THz 波検出信号シミュレーション”, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. A9–A14 (10–12 Nov. 2010).

研究会

  1. 山下将嗣, 松本 徹, 中前幸治, 二川 清, 斗内政吉, 大谷知行、“レーザーテラヘルツ放射顕微鏡を用いたLSI 故障解析技術の現状”、「テラヘルツ分光計測とイメージング」研究討論会(6 Aug. 2010).

学術講演会

  1. 林 史也, 御堂義博, 中前幸治, "試料傾斜角の異なる複数枚SEM画像からのLSI 三次元形状推定", FIT2010 第9回情報科学技術フォーラム, H-043 (2010).
  2. 御堂義博, 鷹岡昭夫, 森博太郎, 中前幸治, "電子顕微鏡トモグラフィのためのマーカーフリーアライメント手法の検討", FIT2010 第9回情報科学技術フォーラム, G-014 (2010).