平成20年度 (2008年度)

論文

  1. K. Nikawa, S. Inoue, T. Nagaishi, T. Matsumoto, K. Miura and K. Nakamae, "New approach of laser-SQUID microscopy to LSI failure analysis," IEICE Trans. Electronics, VOL. E85-C, No. 3, pp.327-333, 2009.
  2. A. Yasaka, F. Aramaki, M. Muramatsu, T. Kozakai, O. Matsuda, Y. Sugiyama, T. Doi, O. Takaoka, R. Hagiwara, and K. Nakamae, " Image quality improvement in focused ion beam photomask repair system," J. Vac. Sci. Technol. B, vol. 26, No.6(Nov/Dec), pp.2121-2123, 2008
  3. A. Yasaka, F. Aramaki, M. Muramatsu, T. Kozakai, O. Matsuda, Y. Sugiyama, T. Doi, O. Takaoka, R. Hagiwara, and K. Nakamae, " Application of vector scanning in focused ion beam photomask repair system," J. Vac. Sci. Technol. B, vol. 26, No.6(Nov/Dec), pp.2127-2130, 2008.

国際会議(査読付き)

  1. A. Yasaka, F. Aramaki, M. Muramatsu, T. Kozakai, O. Matsuda, Y. Sugiyama, T. Doi, O. Takaoka, R. Hagiwara, and K. Nakamae, "Image quality improvement in FIB photomask repair system," in Proc. 52th International Conference on Electron, Ion, and Photon Beam Technology and Nanofabrication, P-4C-02(2 pages), 2008.
  2. A. Yasaka, F. Aramaki, M. Muramatsu, T. Kozakai, O. Matsuda, Y. Sugiyama, T. Doi, O. Takaoka, R. Hagiwara, and K. Nakamae, " Application of vector scanning in FIB photomask repair system," in Proc. 52th International Conference on Electron, Ion, and Photon Beam Technology and Nanofabrication, 9B-4(2 pages), 2008.
  3. A. Takaoka, M. Cao, Y. Midoh, T. Nishida, T. Hasegawa, R. Nishi, Y. Inoue and M. Ogasawara, "Development of automatic system on electron microscopic tomography for 3D medical examination," in Proc. 9th Asia-Pacific Microscopy Conference, Jeju Island, Korea (Nov. 2008).
  4. M. Yamashita, C. Otani, T. Matsumoto, K. Miura, K. Nakamae, M. Tonouchi, K. Nikawa, "Observation of semiconductor test circuits after building-in defect using laser THz emission microscope," 33rd International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz) 2008, pp. 335--336 (Sept. 2008).

著書

  1. LSIテスティング学会編, "LSIテスティングハンドブック", オーム社 (November 2008).

解説・その他

国内会議(査読付き)

  1. 高島真彦, 御堂義博, 中前幸治, "オンラインSEM形状計測・欠陥検査のための観測画像アライメント", 第28回LSIテスティングシンポジウム 会議録, pp. 39-44 (12-14 November 2008).
  2. 水野貴之, 高橋美帆, 東 良重, 朝山匡一郎, 中前幸治, "電子線照射による微細デバイスの電気特性劣化", 第28回LSIテスティングシンポジウム 会議録, pp. 307-310 (12-14 November 2008).
  3. 二川 清, 井上彰二, 永石竜起, 松本 徹, 三浦克介, 中前幸治, "走査レーザSQUID顕微鏡のLSI故障解析への新しい適用法", 第28回LSIテスティングシンポジウム 会議録, pp. 321-326 (12-14 November 2008).
  4. 山下広展, 三浦克介, 中前幸治, 井上彰二, 二川 清, "LSI 故障診断用走査レーザSQUID顕微鏡観測画像の電流密度分布シミュレーション", 第28回LSIテスティングシンポジウム 会議録, pp. 327-332 (12-14 November 2008).

研究会

  1. 山下将嗣,大谷知行,松本徹,三浦克介,中前幸治,斗内政吉,二川清, "レーザーテラヘルツ放射顕微鏡による半導体回路の観察," 第5回理研・分子研合同シンポジウム エクストリームフォトニクス研究

学術講演会

  1. 今井貴夫, 御堂義博, 関根和教, 佐藤 豪, 中前幸治, 武田憲昭, "新しい眼球運動解析システム," 第67回 日本めまい平衡医学会総会・学術講演会, p. 484 (Oct. 2008).
  2. 御堂義博,高島真彦,鷹岡昭夫,西 竜治,中前幸治, "SIFT特徴量を用いた電子顕微鏡トモグラフィ自動化の検討," 第69回応用物理学会学術講演会, No. III, p. 890 (Sep. 2008).
  3. 御堂義博,中前幸治,山下将嗣,斗内政吉,二川 清, "LTEMによるLSI 故障解析のためのTHz波シミュレーション," 第69回応用物理学会学術講演会, No. III, p. 989 (Sep. 2008).