国内会議(査読付き)

平成28年度 (2016年度)

  1. 三宅聡士,御堂義博,中前幸治,“畳み込みニューラルネットワークを用いた単一SEM画像高画質化”,第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 119-124,9-11 Nov. 2016.
  2. 御堂義博, 飯田悠介, 濱口 晶, 井田知宏, 中前幸治,“SEM シミュレーションとAI画像解析を用いた微細ラインパターン寸法計測の高精度化の検討”,第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 125-129,9-11 Nov. 2016.
  3. 堤 勇人, 御堂義博, 中前幸治,“三次元電子顕微鏡像からの生体細胞構造認識のためのマルチクラス領域分割法の検討(2)”, 第36 回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 131-135,9-11 Nov. 2016.
  4. 有田亘佑, 御堂義博, 中前幸治,“細胞培養時スクリーニングのためのコロニー輪郭自動抽出手法”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 137-141,9-11 Nov. 2016.
  5. 足立健太, 御堂義博, 中前幸治,“機械学習を用いた電子顕微鏡連続断面像からのミトコンドリア検出手法”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 143-148,9-11 Nov. 2016.
  6. 遠藤幸一, 中村共則, 松本 徹, 越川一成, 中前幸治,“熱反射率光学プローブ法を用いた半導体デバイスの熱挙動解析”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 149-154,9-11 Nov. 2016.
  7. 井野昂宜, 三浦克介, 中前幸治,“故障解析装置を用いた攻撃に対する耐攻撃設計AES暗号化回路の評価”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 161-166,9-11 Nov. 2016.
  8. 世古充樹, 三浦克介, 中前幸治,“閾値電圧ばらつきによるオフ電流発光変動考慮エミッション顕微鏡像シミュレーション”, 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録,pp. 167-172,9-11 Nov. 2016.

平成27年度 (2015年度)

  1. 岡本直幸, 御堂義博, 中前幸治, “連続ウェーブレット変換とマルコフ確率場を用いた単一SEM画像の学習型超解像度化”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.117-121, 11-13 Nov. 2015.
  2. 御堂義博, 三津屋陽介, 西 竜治, 中前幸治, “電子線トモグラフィーのためのサポートベクトル回帰を用いたTEM動画像高解像度化手法”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.151-156, 11-13 Nov. 2015.
  3. 堤 勇人, 御堂義博, 中前幸治, “三次元電子顕微鏡像からの生体細胞構造認識のためのマルチクラス領域分割法の検討”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.157-162, 11-13 Nov. 2015.
  4. S. Miyake and K. Nakamae, “A quantum watermarking scheme using simple and small-scale quantum circuits,” in Proc. 35th Annual NANO Testing Symposium (NANOTS 2015), pp.163-168, 11-13 Nov. 2015.
  5. 三浦克介, 田中太樹, 鈴木泰昌, 中前幸治, “3次元NoCにおけるNBTI劣化抑制ルーティン グアルゴリズム”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.179-184, 11-13 Nov. 2015.
  6. 三浦克介, 大林智幸, 中前幸治, “物理解析装置を用いたスキャン設計 AES 暗号化回路への攻撃に対する耐攻撃設計”, 第35回ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2015 会議録, pp.185-190, 11-13 Nov. 2015.
  7. K. Endo, K. Norimatsu, T. Setoya, T. Nakamura, T. Matsumoto, K. Koshikawa, and K. Nakamae, “Detailed thermal analysis of semiconductor devices with optical probed thermo-reflectance image mapping (OPTIM),” in Proc. 35th Annual NANO Testing Symposium (NANOTS 2015), pp.233-238, 11-13 Nov. 2015.

平成26年度 (2014年度)

  1. 遠藤幸一,則松研二,中嶋克徳,瀬戸屋孝,長峰真嗣,中村共則,越川一成,中前幸治,“時間分解エミッション顕微鏡を用いたChip 表面からのPower MOSFET アバランシェ降伏電流の観察,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.41–46,12–14 Nov. 2014.
  2. 飯田悠介,御堂義博,濱口晶,井田知宏,阿部秀昭,中前幸治,“モンテカルロSEMシミュレーションを用いた帯電現象の研究,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.183–188,12–14 Nov. 2014.
  3. 三浦克介,御堂義博,豊田康隆,牛場郭介,篠田伸一,中前幸治,“分水嶺アルゴリズムと機械学習を利用した半導体電子顕微鏡画像計測の為のライン抽出法,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.189–194,12–14 Nov. 2014.
  4. 御堂義博,中前幸治,“離散コサイン変換を用いた単一SEM 画像の学習型超解像度化,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.195–198,12–14 Nov. 2014.
  5. 三津屋陽介,御堂義博,西竜治,中前幸治,“TEM 動画像を用いた電子線トモグラフィーの検討,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.199–204,12–14 Nov. 2014.
  6. 御堂義博,中前幸治,“非線形Total Variation に基づくTEM像の雑音低減法と電子線トモグラフィーへの応用,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.205–210,12–14 Nov. 2014.
  7. 桃田快,遠藤幸一,御堂義博,三浦克介,中前幸治,“マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.235–240,12–14 Nov. 2014.
  8. 高口雅成,阿南義弘,中前幸治,“STEM-WDX による極系元素の高感度組成分布評価技術,”ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.247–249,12–14 Nov. 2014.
  9. 福田尚稀,中前幸治,“Dependence of quantum error correction selection criteria on qubits concentration in an ion trap quantum computer,” ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p.263–268,12–14 Nov. 2014.
  10. 三浦克介,則松研二,中前幸治,“ソフトウェア故障診断結果とそれに基づく局所的なレイアウト抽出回路を用いた発光解析支援システムの検討,” ナノテスティングシンポジウム/2014会議録,p.269–273,12–14 Nov. 2014.

平成25年度 (2013年度)

  1. 蝶野尋紀,三浦克介,中前幸治,"健康モニタリングセンサーチップのための心電図圧縮センシング回路のテストおよび高信頼化II",第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録,pp.155-160,13-15 Nov. 2013.
  2. 三浦克介,黒川敦,宮崎浩,中前幸治,"信頼性考慮EDAソフトウェア開発のためのMOSFETおよび配線tegチップの開発と測定",第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録,pp.161-164,13-15 Nov. 2013.
  3. 御堂義博,岡本直幸,中前幸治,"LSI SEM画像からの微細ラインパターン計測のためのNonlinear Total Variationに基づく雑音除去法を用いた統計的エッジ検出",第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録,pp.165-169,13-15 Nov. 2013.
  4. 日野恭佑,三浦克介,中前幸治,"電磁場波形のデコンボリューション処理による遅延故障絞り込み手法",第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録,pp.177-182,13-15 Nov. 2013.
  5. 工藤修一,廣瀬幸範,西竜治,御堂義博,服部信美,小山徹,中前幸治,"超高圧電子顕微鏡を用いた半導体デバイス解析",第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録,pp.225-230,13-15 Nov. 2013.

平成24年度 (2012年度)

平成23年度 (2011年度)

平成22年度 (2010年度)

  1. 林 史也, 御堂義博, 中前幸治, “試料傾斜角の異なる複数枚SEM 画像からの三次元形状計測, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 85–90 (10–12 Nov. 2010).
  2. 三浦克介, 二川 清, 中前幸治, “電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID 顕微鏡によるVLSI 診断法”, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 187–192 (10–12 Nov. 2010).
  3. 野津孝行, 三浦克介, 中前幸治, “量子ドットセルオートマトンPLA の耐欠陥性評価”, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 193–198 (10–12 Nov. 2010).
  4. 山下将嗣, 大谷知行, 松本 徹, 三浦克介, 中前幸治, 二川 清, 斗内政吉, “レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるLSI チップの非接触測定”, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 255–260 (10–12 Nov. 2010).
  5. 御堂義博, 山下将嗣, 松本 徹, 二川 清, 中前幸治, “LSI 故障解析のためのレーザーテラヘルツエミッション顕微鏡THz 波検出信号シミュレーション”, 第30 回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. A9–A14 (10–12 Nov. 2010).

平成21年度 (2009年度)

  • 寺坂豪泰, 御堂義博, 中前幸治, "二段キャラクタプロジェクションマスクレス電子ビーム直接描画方式の検討", 第29回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 49–54 (11–13 Nov. 2009).
  • 御堂義博, 高島真彦, 中前幸治, "複数低解像度SEM 画像からの高解像度化を用いた欠陥検査の評価", 第29回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 61–66 (11–13 Nov. 2009).
  • 野津孝行, 三浦克介, 中前幸治, "量子ドットセルオートマトン(QCA) を用いた高密度・高信頼PLA の検討", 第29回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 227–232 (11–13 Nov. 2009).
  • 三浦克介, 中前幸治, 二川清, "電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID 顕微鏡によるVLSI 診断法の検討", 第29回LSI テスティングシンポジウム, pp. 239–244 (11–13 Nov. 2009).
  • 三浦克介, 中前幸治, "VLSI 詳細故障診断の為のレイアウト情報抽出ソフトウェアの開発", 第29回LSI テスティングシンポジウム会議録(11–13 Nov. 2009).
  • 山下将嗣, 大谷知行, 金鮮美, 村上博成, 斗内政吉, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 二川清, "レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるLSI-TEG 観察II", 第29回LSI テスティングシンポジウム会議録, pp. 343–348 (11–13 Nov. 2009).

平成20年度 (2008年度)

  • 高島真彦, 御堂義博, 中前幸治, "オンラインSEM形状計測・欠陥検査のための観測画像アライメント", 第28回LSIテスティングシンポジウム 会議録, pp. 39-44 (12-14 November 2008).
  • 水野貴之, 高橋美帆, 東 良重, 朝山匡一郎, 中前幸治, "電子線照射による微細デバイスの電気特性劣化", 第28回LSIテスティングシンポジウム 会議録, pp. 307-310 (12-14 November 2008).
  • 二川 清, 井上彰二, 永石竜起, 松本 徹, 三浦克介, 中前幸治, "走査レーザSQUID顕微鏡のLSI故障解析への新しい適用法", 第28回LSIテスティングシンポジウム 会議録, pp. 321-326 (12-14 November 2008).
  • 山下広展, 三浦克介, 中前幸治, 井上彰二, 二川 清, "LSI 故障診断用走査レーザSQUID顕微鏡観測画像の電流密度分布シミュレーション", 第28回LSIテスティングシンポジウム 会議録, pp. 327-332 (12-14 November 2008).