研究会

平成28年度 (2016年度)

  1. 御堂義博,“電顕画像からのミトコンドリアの自動抽出”,ナノテスティング学会第1回生物計測応用研究会,June 2016.
  2. 御堂義博,“細胞培養時スクリーニングのための細胞画像の自動領域分割法”, ナノテスティング学会第2回生物計測応用研究会,November 2016.

平成26年度 (2014年度)

  1. 御堂義博, “絶縁膜帯電シミュレーションにおけるパラメータ依存性の検討,” ナノテスティング学会第4回先端計測技術研究会,22 Aug. 2014.
  2. 桃田 快,遠藤幸一,御堂義博,三浦克介,中前幸治,“マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測,” 信学技報, vol.114, no.314, R2014-61, pp.1–5, 20 Nov. 2014.
  3. 御堂義博, ” 縁膜帯電現象:シミュレーションと実験の比較,” ナノテスティング学会第4回先端計測技術研究会,30 Jan. 2015.

平成25年度 (2013年度)

  1. 御堂義博,"電子線照射による表面から放出された電子のエネルギースペクトル計算",ナノテスティング学会第2回先端計測技術研究会,26 Aug 2013.
  2. 御堂義博,"トモグラフィー電子顕微鏡用ソフトウェアの活用・普及促進",JASIS2013「先端計測分析技術・機器開発プログラム」開発成果の活用・普及促進,4-6 Sep. 2013.
  3. 御堂義博,"絶縁膜二次電子放出シミュレーションにおける物性パラメータ依存性の検討",ナノテスティング学会第3回先端計測技術研究会,14 Feb. 2014.

平成24年度 (2012年度)

平成23年度 (2011年度)

平成22年度(2010年度)

  1. 山下将嗣, 松本 徹, 中前幸治, 二川 清, 斗内政吉, 大谷知行、“レーザーテラヘルツ放射顕微鏡を用いたLSI 故障解析技術の現状”、「テラヘルツ分光計測とイメージング」研究討論会(6 Aug. 2010).

平成21年度(2009年度)

  1. 山下将嗣, 大谷知行, 金鮮美, 村上博成, 斗内政吉, 松本 徹, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 二川 清, "LSI故障解析用レーザーテラヘルツ放射顕微鏡プロトタイプ装置の開発", エクストリームフォト二クスシンポジウム「光で繋ぐ理研の基礎科学」(20-21 May 2009).

平成20年度(2008年度)

  1. 山下将嗣,大谷知行,松本徹,三浦克介,中前幸治,斗内政吉,二川清, "レーザーテラヘルツ放射顕微鏡による半導体回路の観察," 第5回理研・分子研合同シンポジウム エクストリームフォトニクス研究
  2. 田中啓一, 小田原成計, 永田篤士, 馬場由香里, 中山 哲, 相田和男, 藤井利昭, 足立達哉, 八坂行人, "マイクロカロリーメータを用いた低加速X線分析システム", 第28回LSIテスティングシンポジウム 会議録, pp. 255-260 (12-14 November 2008).

平成19年度(2007年度)

  1. 御堂義博, 中前幸治, 藤岡 弘, "統計的適合ウェーブレットを用いたSEM画像ナノ構造のLER計測", LSIテスティングシンポジウム/2007会議録, pp. 1-6 (7-9 November 2007).
  2. 高島真彦, 御堂義博, 中前幸治, "同一パターンの複数低解像度SEM画像からの高解像度化を用いた欠陥検査", LSIテスティングシンポジウム/2007会議録, pp. 31-36 (7-9 November 2007).
  3. 岡本武司, 三浦克介, 中前幸治, "SEM像によるVLSI自動欠陥検出・分類の性能向上", LSIテスティングシンポジウム/2007会議録, pp. 37-42 (7-9 November 2007).
  4. 二宮幸夫, 三浦克介, 中前幸治, "レイアウト依存バラつきを考慮したVLSI故障診断法", LSIテスティングシンポジウム/2007会議録, pp. 221-226 (7-9 November 2007).
  5. 三浦克介, Xing Wu*, 中前幸治, "レイアウト抽出情報を用いた温度依存故障診断法の検討", LSIテスティングシンポジウム/2007会議録, pp. 233-238 (7-9 November 2007).
  6. 山下将嗣, 大谷知行, 斗内政吉, 三浦克介, 中前幸治, 二川 清, "レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡におけるLSI-TEG観察", LSIテスティングシンポジウム/2007会議録, pp. 347-350 (7-9 November 2007).

平成18年度(2006年度)

  1. 御堂義博, 中前幸治, 藤岡弘, "LSI微細構造SEM画像における多重ガウシアンフィルタリングによる境界抽出", LSIテスティングシンポジウム/2006会議録, pp. 1-6 (8-10 Nov 2006).
  2. 御堂義博, 中前幸治, 藤岡弘, "メトロロジーのための多重ガウシアンフィルタリング法とウェーブレット多重解像度解析法との比較", LSIテスティングシンポジウム/2006会議録, pp. 7-12 (8-10 Nov 2006).
  3. 岡本武司, 三浦克介, 中前幸治, "自動欠陥分類のための分類手法 (ルールベース、KNN、PNN、SVM) の比較", LSIテスティングシンポジウム/2006会議録, pp. 47-52 (8-10 Nov 2006).
  4. 三浦克介, 中前幸治, "レイアウト抽出ネットリストを用いたSoCマクロブロックの故障診断手法", LSIテスティングシンポジウム/2006会議録, pp. 199-204 (8-10 Nov 2006).
  5. 酒井哲哉, 二川清, 三浦克介*, 中前幸治, "走査レーザSQUID顕微鏡のレーザ変調高周波化による故障個所絞込み位置精度向上", LSIテスティングシンポジウム/2006会議録, pp. 305-310 (8-10 Nov 2006).
  6. 三浦克介, 中前幸治, "抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法", 信学技報, Vol.106, pp. 103-108 (18-19 Jan 2007).

平成17年度(2005年度)

  1. 冨永達朗, 中前幸治, 藤岡弘, 中杉哲郎, "キャラクタプロジェクション方式電子ビーム直接描画システムにおけるニューラルネットワークに基づく動的スケジューリング", LSIテスティングシンポジウム/2005 会議録, pp.1-6 (9-11 Nov 2005).
  2. 御堂義博, 中前幸治, 藤岡弘, "LSI断面SEM画像における多重ガウシアンフィルタリングによる境界抽出 (II)",LSIテスティングシンポジウム/2005 会議録, pp. 7-14 (9-11 Nov 2005).
  3. 今田次郎, 中前幸治, 藤岡弘, "SEM観測画像におけるウェーブレット多重解像度解析による形状計測", LSIテスティングシンポジウム/2005 会議録, pp. 15-20 (9-11 Nov 2005).
  4. 中野賢司, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, "遠隔検査環境下での画像ベース検査手法の検討", LSIテスティングシンポジウム/2005 会議録, pp. 55-60 (9-11 Nov 2005).
  5. 鈴木良, 中前幸治, 藤岡弘, "タグチ法によるインラインウェーハ検査最適サンプリングプランのロバストネス評価", LSIテスティングシンポジウム/2005 会議録, pp. 97-102 (9-11 Nov 2005).
  6. 四之宮傑, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, "テストポイント挿入ロジックBIST設計回路の故障診断容易性評価", LSIテスティングシンポジウム/2005 会議録, pp. 207-212 (9-11 Nov 2005).

平成16年度(2004年度)

  1. 小東智, 中前幸治, 藤岡弘, "平衡神経系シミュレータの良性発作性頭位めまい症への適用", 生体医工学シンポジウム2004, 6-4 (29-30 Sep 2004).
  2. 冨永達朗, 松尾達, 中前幸治, 藤岡弘, 中杉哲郎, 俵山和雄, "キャラクタプロジェクション方式電子ビーム直接描画システムにおけるスケジューリング", LSIテスティングシンポジウム/2004 会議録, pp. 1-6 (5-7 Nov 2004).
  3. 藤田将史, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, "弛緩法を用いたLSI微細形状露光パターンSEM像とCADレイアウトのパターンマッチング", LSIテスティングシンポジウム/2004 会議録, pp. 7-12 (5-7 Nov 2004).
  4. 御堂義博, 中前幸治, 藤岡弘, "LSI断面SEM観測画像における多重ガウシアンフィルタリングによる境界抽出", LSIテスティングシンポジウム/2004 会議録, pp. 13-18 (5-7 Nov 2004).
  5. 松尾達, 中前幸治, 藤岡弘, "VLSIテスト工程におけるシミュレーションによる人的資源の評価", LSIテスティングシンポジウム/2004 会議録, pp. 205-210 (5-7 Nov 2004).
  6. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, "外部観測型テスト結果とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障箇所絞り込み手法", LSIテスティングシンポジウム/2004 会議録, pp. 253-258 (5-7 Nov 2004).
  7. 四之宮傑, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, "高可観測テスト環境下でのロジックBIST設計LSIの遅延故障診断", LSIテスティングシンポジウム/2004 会議録, pp. 265-270 (5-7 Nov 2004).
  8. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, "機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法", 信学技報, Vol.104, 629, pp. 47-51, (27-28 Jan 2005).

平成15年度(2003年度)

  1. 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, "LSI SEM画像からの微細デバイス構造認識のための統計的画像処理法", LSIテスティングシンポジウム/2003 会議録, pp. 13-18 (5-7 Nov 2003).
  2. 善田洋平, 中前幸治, 藤岡弘, "電子ビームテスタ環境下での組合せ回路の遅延故障診断", LSIテスティングシンポジウム/2003 会議録, pp. 189-194 (5-7 Nov 2003).
  3. 松尾達, 中前幸治, 藤岡弘, "人の特性を考慮できる VLSI テスト工程シミュレータ", LSIテスティングシンポジウム/2003 会議録, pp. 201-206 (5-7 Nov 2003).
  4. 近久真章, 中前幸治, 藤岡弘", ウェーブレット多重解像度解析を用いたSEM観測画像からの電子ビームプロファイルの推定", LSIテスティングシンポジウム/2003 会議録, pp. 299-304 (5-7 Nov 2003).
  5. 善田洋平, 中前幸治, 藤岡弘, "電子ビームテスタ環境下での組み合わせ回路の遅延故障診断," 電子情報通信学会電子部品・材料(CPM)/集積回路(ICD)研究会, CPM2003-167/ICD2003-206, 信学技法, 103, 647, pp.29-34 (5 Feb 2004).

平成14年度(2002年度)

  1. 西村宜晃, 中前幸治, 藤岡弘, “シミュレーション手法によるSEMウェーハ検査システムを用いた歩留り低下要因早期検出法の評価”, LSIテスティングシンポジウム/2002 会議録, pp. 19-24 (2002).
  2. 善田洋平, 中前幸治, 藤岡弘, “DRAMリペア構成とアナリシスの評価”, LSIテスティングシンポジウム/2002 会議録, pp. 83-87 (2002).
  3. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “CMOSデバイスの裏面波形観測のためのCADナビゲーションシステム”, LSIテスティングシンポジウム/2002 会議録, pp. 131-136 (2002).
  4. 小畠智幸, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “EB・FIB統合化テストシステムにおけるFIB加速電圧の低電圧化”, LSIテスティングシンポジウム/2002 会議録, pp. 177-182 (2002).
  5. 御堂義博, 中前幸治, 藤岡弘, “統計的画像処理法による半導体断面SEM像からの微細デバイス構造認識”, LSIテスティングシンポジウム/2002 会議録, pp. 195-200 (2002).
  6. 橋本慶章, 中前幸治, 藤岡弘, “半導体デバイス外観検査装置の照明方式検討用CGシステム”, LSIテスティングシンポジウム/2002 会議録, pp. 217-222 (2002).
  7. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “レイアウトからの逐次回路抽出によるSoCの故障追跡”, 電子情報通信学会 電子部品・材料 (CPM)/集積回路 (ICD) 研究会, CPM2002-147/ICD2002-192, 信学技報, vol.102, no.622, pp.47-52 (30-31 Jan 2003).

平成13年度(2001年度)

  1. 野村和博, 中前幸治, 藤岡弘, “CADレイアウトを考慮した組み合わせ回路のEBテスタ遅延故障位置特定アルゴリズム”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 19-24 (2001).
  2. 三浦克介, 小畠智幸, 中前幸治, 藤岡弘, “光学顕微鏡およびFIB加工装置を利用した多層構造標準セル設計VLSIの逆設計システム”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 63-68 (2001).
  3. 織田隆之, 中前幸治, 藤岡弘, “ウェーハテスト工程におけるウェーハ管理コード認識システム”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 181-186 (2001).
  4. 中田晴己, 中前幸治, 藤岡弘, “VLSIウェーハ製造工程における検査プロセス戦略の経済性評価”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 239-244 (2001).
  5. 乗松幸一郎, 中前幸治, 藤岡弘, “LSI生産戦略意志決定支援システム”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 245-250 (2001).
  6. 中前幸治, 藤岡弘, “EB・FIB統合化テストシステム”, 電子情報通信学会 電子部品・材料 (CPM)/集積回路(ICD) 研究会, CPM-115/ICD-167, 信学技報, Vol.101, No.516, pp.1-8 (20 Dec 2001).

平成12年度(2000年度)

  1. 西田裕樹, 中前幸治, 藤岡弘, “LSI製造プロセスシミュレータによる歩留まり低下要因早期検出法の検討”, LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 17-22 (2000).
  2. 田辺光紘, 中前幸治, 藤岡弘, “DRAMウェーハレベルCSPのシミュレーション技法による経済性評価”, LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 23-28 (2000).
  3. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “EB・FIB統合化テストシステムの開発”, LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 76-81 (2000).
  4. 玉村亘, 中前幸治, 藤岡弘, “LSIパッケージリード端子自動検査システム”,LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 235-240 (2000).
  5. 渡辺麟太郎, 中前幸治, 藤岡弘, “BGAパッケージのはんだボール検査システム”, LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 241-246 (2000).
  6. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “レイアウトからの逐次回路抽出によるEB自動故障追跡システム”, 電子情報通信学会 VLSI設計技術 (VLD)/集積回路 (ICD)/フォールトトレラントシステム (FTS) 研究会, 滋賀県守山市, VLD2000-107/ICD2000-164/FTS2000-72, 信学技報, vol. 100, no. 473, pp. 227-232 (29-30 Nov 2000).
  7. 田辺光紘, 中前幸治, 藤岡弘, “DRAMウェーハレベルCSPのシミュレーション技法による経済性評価”, 電子情報通信学会 電子部品材料 (CPM)/集積回路 (ICD) 研究会, 大阪府吹田市, CPM2000-140/ICD2000-173, 信学技報, vol. 100, no. 485, pp. 35-41 (7-8 Dec 2000).
  8. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “EB・FIB統合化テストシステムの開発”, 電子情報通信学会 電子部品材料(CPM)/集積回路 (ICD) 研究会, 大阪府吹田市, CPM2000-144/ICD2000-177, 信学技報, Vol.100, No.486, pp. 25-32, (7-8 Dec 2000).

平成11年度(1999年度)

  1. 伊藤敦, 中前幸治, 藤岡弘, “メモリフェイルビットマップの故障パターン分類・原因類推システム”, 電子情報通信学会 電子部品・材料研究会 (CPM), 集積回路研究会, 大阪, pp. 40-45 (2-3 Dec 1999).
  2. 柳生慎也, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテスティング容易化のためのテストパッド導入ツール”, LSIテスティングシンポジウム/1999 会議録, pp. 7-12 (1999).
  3. 山崎博之, 中前幸治, 藤岡弘, “VLSIテスタビリティ改善のための内部電流テストポイント導入”, LSIテスティングシンポジウム/1999 会議録, pp. 13-18 (1999).
  4. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “EB自動故障追跡システムのインテリジェント化”, LSIテスティングシンポジウム/1999 会議録, pp. 80-85 (1999).
  5. 伊藤敦, 中前幸治, 藤岡弘, “メモリフェイルビットマップの故障パターン分類・原因類推システム”, LSIテスティングシンポジウム/1999 会議録, pp. 161-166 (1999).
  6. 山地繁徳, 中前幸治, 藤岡弘, “VLSIウェーハ製造工程における検査・修正プロセスのモデル化と経済性評価”,LSIテスティングシンポジウム/1999 会議録, pp. 167-172 (1999).
  7. 古賀航, 中前幸治, 藤岡弘, “VLSI製造ファイナルテスト工程におけるレイアウトを考慮した人的資源の評価”,LSIテスティングシンポジウム/1999 会議録, pp. 188-193 (1999).

平成10年度(1998年度)

  1. M.Sanada and H.Fujioka, “Fault Block Detection Technique of CMOS LSI Using Abnormal IDDQ Phenomenon ”, 第39回FTC研究会資料, 4-1,7 (1998/7).
  2. 北村充弘, 近村晶央, 中前幸治, 藤岡弘, “LSI生産システムにおけるテスト工程の短TAT戦略とコスト評価”, LSI テスティングシンポジウム/1998会議録, pp. 7-12 (1998).
  3. 近村晶央, 中前幸治, 藤岡弘, “300mmウェーハへの移行とロジスティックのVLSI生産ファイナルテスト工程の 効率とコストに与える影響”, LSIテスティングシンポジウム/1998会議録, pp. 13-18 (1998).
  4. 池田栄二, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテスタ観測画像からの動信号領域抽出とその疑似カラー表示”, LSIテステ ィングシンポジウム/1998会議録, pp. 57-62 (1998).
  5. 稲垣尋紀, 小松文朗, 中前幸治, 藤岡弘, “多層構造標準セル設計CMOS LSI光学顕微鏡画像からの回路認識”, LSI テスティングシンポジウム/1998会議録, pp. 63-68 (1998).
  6. 石村貴志, 真田克, 中前幸治, 藤岡弘, “故障シミュレーションを利用した組合せ回路のEBテスタ故障追跡アル ゴリズム”, LSIテスティングシンポジウム/1998会議録, pp. 80-85 (1998).
  7. 永井努, 中前幸治, 藤岡弘, “レイアウト解析によるEBテスティング容易化テストパッド配置優先順位の決定”, LSI テスティングシンポジウム/1998会議録, pp. 128-133 (1998).
  8. 真田克, 藤岡弘, “IDDQ異常現象を用いたkiller欠陥診断技術による論理回路の歩留まり向上”, LSIテスティ ングシンポジウム/1998会議録, pp. 208-213 (1998).

平成9年度(1997年度)

  1. 大森久永, 中前幸治, 藤岡弘, “超LSIプロセスシミュレーションによるパーティクルの歩留まりに与える影響の評価”, LSIテスティングシンポジウム/1997会議録, pp. 58-63 (1997).
  2. 近村晶央, 中前幸治, 藤岡弘, “超LSI生産システムファイナルテスト工程のスケジューリングに与える特急品の影響”, LSIテスティングシンポジウム/1997会議録, pp. 64-69 (1997).
  3. 三浦克介, 中田浩平, 大窪和生, 中前幸治, 藤岡弘, “VLSI CADレイアウトデータからの逐次回路抽出によるEB自動故障追跡システム”, LSIテスティングシンポジウム/1997会議録, pp. 99-104 (1997).

平成8年度(1996年度)

  1. 大西篤志, 中前幸治, 藤岡 弘, “DUT配線パターン光学顕微鏡観測画像からの知識ベース構築による回路抽出”,LSIテスティングシンポジウム/1996会議録, pp. 18-23 (1996).
  2. 福留康和, 中前幸治, 藤岡 弘, “ハイブリッドGAによるCADレイアウトとDUT配線パターン観測画像とのパターンマッチング”, LSIテスティングシンポジウム/1996会議録, pp. 24-29 (1996).
  3. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡 弘, “CADレイアウトからの逐次回路抽出によるVLSI順序回路の階層的故障追跡法(II)”, LSIテスティングシンポジウム/1996会議録, pp. 75-80 (1996).
  4. 松原豊, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテストシステムVLSI故障追跡支援のためのレイアウトからのスケマティック自動生成”, LSIテスティングシンポジウム/1996会議録, pp. 81-86 (1996).
  5. 中田恭彦, 大窪和生, 中前幸治, 藤岡弘, “EB故障診断のためのTr.レベル回路データからの知識処理による高位回路記述システム”, LSIテスティングシンポジウム/1996会議録, pp. 87-92 (1996).
  6. 東吾紀男, $BCfA09,<#, 藤岡弘, “LSI生産システムにおけるファイナルテスト工程の評価(II)”, LSIテスティングシンポジウム/1996会議録, pp. 205-210 (1996).
  7. 近村晶央, 中前幸治, 藤岡弘, “LSI生産システムファイナルテスト工程のロット処理優先規則の評価”, LSIテスティングシンポジウム/1996会議録, pp. 211-216 (1996).

平成7年度(1995年度)

  1. 藤井正行, 中前幸治, 藤岡弘, “LSI生産システムにおけるウェーハテスト工程の評価 (II)”, 日本学術振興会第132委員会第132回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1995)資料, pp. 19-24 (1995).
  2. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “CADレイアウトからの逐次回路抽出によるVLSI順序回路の階層的故障追跡法”, 日本学術振興会第132委員会第132回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1995)資料, pp. 84-89 (1995).
  3. 二口一則, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテストシステムにおけるレイアウト辞書を用いたVLSI故障追跡法”, 日本学術振興会第132委員会第132回研究会(LSIテスティングシ ンポジウム/1995)資料, pp. 90-95 (1995).
  4. 西孝啓, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテストシステムにおける信号波形比較システム”, 日本学術振興会第132委員会第132回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1995)資料, pp. 126-131 (1995).
  5. 織田貴彦, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテストシステムにおける画像ベースの多重故障対応自 動故障診断法”, 日本学術振興会第132委員会第132回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1995)資料, pp. 132-137 (1995).
  6. 松本 学, 中前幸治, 藤岡弘, “VLSI工学顕微鏡画像からのフラクタル解析による回路ブロック設計手法の自動認識の試み”, 日本学術振興会第132委員会第132回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1995)資料, pp. 138-14 3 (1995).
  7. 横山真司, 中前幸治, 藤岡弘, “LSI観測配線パターンからの知識ベース構築による回路認識”, 日本学術振興会第132委員会第132回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1995)資料, pp. 144-149 (1995).
  8. 藤岡弘, 中前幸治, 三浦克介, “特別招待論文:CADリンクEBテストシステムによるVLSI故障診断の新技法”, 信学技報, Vol.95, pp. 21-28 (14-15 Dec 1995).

平成6年度(1994年度)

  1. 中前幸治, 藤井正行, 藤岡弘, “LSI生産システムにおけるウェーハテスト工程の評価”, 日本学術振興会第132委員会第128回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1994)資料, pp.23-28 (1994).
  2. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテストシステムにおけるCADレイアウトからの逐次回路抽出によるVLSIの階層的故障追跡法”, 日本学術振興会第132委員会第1 28回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1994)資料, pp.71-76 (1994).
  3. 井口雅保, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテストシステムによる故障診断のためのCADレイアウトからの回路機能抽出”, 日本学術振興会第132委員会第128回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1994)資料, pp.77-82 (1994).
  4. 中垣亮, 松本学, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテストシステムにおけるプロービング点自動決定アルゴリズム”, 日本学術振興会第132委員会第128回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1994)資料, pp.123-128 (1994).
  5. 久保田英晴, 織田貴彦, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテストシステムにおける画像ベースの自動故障診断法”, 日本学術振興会第132委員会第128回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1994)資料, pp.129-134 (1994).
  6. 小林秀人, 中前幸治, 藤岡弘, “EBテストシステムにおける保護膜付きVLSIの画質改善”, 日本学術振興会第132委員会第128回研究会(LSIテスティングシンポジウム/1994)資料, pp.141-146 (1994).

平成5年度(1993年度)

  1. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡弘, “CADレイアウトからの逐次回路抽出によるVLSI自動故障追跡法”, 日本学術振興会第132委員会第125回研究会(EBテスティングシンポジウム/1993)資料, pp.58-63 (1993).
  2. 中前幸治, 中垣亮, 三浦克介, 藤岡弘, “CADレイアウトとDUT配線SEM画像との高速・高確度マッチング法”, 日本学術振興会第132委員会第125回研究会(EBテスティングシンポジウム/1993)資料, pp.64-69 (1993).
  3. 阪本誉, 中前幸治, 藤岡弘, “LSI生産システムのテスト工程の最適化”, 日本学術振興会第132委員会第125回研究会(EBテスティングシンポジウム/1993)資料, pp.113-120 (1993).
  4. 山本雅一, 中前幸治, 藤岡弘, “保護膜つきVLSIのSEM画像の画質改善”, 日本学術振興会第132委員会第125回研究会(EBテスティングシンポジウム/1993)資料, pp.121-124 (1993).
  5. 田中裕久, 中前幸治, 藤岡弘, “CADデータ利用による動的故障伝搬抽出法の高速化”, 日本学術振興会第132委員会第125回研究会(EBテスティングシンポジウム/1993)資料, pp.125-130 (1993).

平成4年度(1992年度)

  1. 小迎聡, 中前幸治, 藤岡弘, “電子ビームテスタによるパワーMOS FETの動作解析”, 日本学術振興会第132委員会第121回研究会(EBテスティングシンポジウム/1992)資料, pp.11-16 (1992).
  2. 中前幸治, 阪本誉, 藤岡弘, “テスト工程を含むLSI開発コストの評価”, 日本学術振興会第132委員会第121回研究会(EBテスティングシンポジウム/1992)資料, pp.22-29 (1992).
  3. 三浦克介, 田中裕久, 中前幸治, 藤岡弘, “CADリンク電子ビームテストシステムによるVLSIの伝搬遅延故障自動追跡法”, 日本学術振興会第132委員会第121回研究会(EBテスティングシンポジウム/1992)資料, pp.50-55 (1992).
  4. 杉本博司, 中前幸治, 藤岡弘, “二次電子信号強度分布からのLSI微細凹形状の再構成”, 日本学術振興会第132委員会第121回研究会(EBテスティングシンポジウム/1992)資料, pp.168-173 (1992).

平成3年度(1991年度)

  1. 石井友規, 中前幸治, 藤岡弘, “電子ビームエッチング開口窓による電位コントラストの測定”, 日本学術振興会第132委員会第117回研究会(EBテスティングシンポジウム/1991)資料, pp.142-147 (1991).
  2. 中川克哉, 中前幸治, 藤岡弘, “有限電子ビーム径によって劣化したラインプロファイルのディコンボリューション処理による復元”, 日本学術振興会第132委員会第117回研究会(EBテスティングシンポジウム/1991)資料, pp.188-193 (1991).