日本顕微鏡学会にて村上慎治君(M1)が発表

2024年6月3日から5日に幕張メッセにて開催された日本顕微鏡学会学術講演会において、村上慎治君(M1)が口頭発表を行いました。

村上慎治, 大家政洋, 岡本陽介, 中澤伸一, 丸山浩太郎, 山崎裕一郎, 御堂義博, 三浦 典之, “高加速SEM画像を用いた半導体多層構造からのパターン計測が可能な輪郭抽出法,” 第80回日本顕微鏡学会学術講演会, 3pmC_I-7-02, Jun. 2024.(千葉)