解説記事

5	中澤 伸一, 岡本 陽介, 大家 政洋, 山崎 裕一郎, “最先端半導体デバイス向け電子線パターン形状計測技術の最新動向,” 精密工学会誌, vol. 91, no. 7, pp. 758-762, Jul. 2025. https://doi.org/10.2493/jjspe.91.758 (共同研究講座の成果)
4	御堂 義博, “計測分野における AI活用事例と今後の展望,” スマートプロセス学会誌, vol. 12, no. 6, pp. 300-305, Nov. 2023. https://doi.org/10.7791/jspmee.12.300
3	御堂 義博, “透過像の深層学習による細胞核モニタリング,” 光学, vol. 52, no. 3, pp. 116-122, Mar. 2023.
2	三浦 典之, “情報空間と物理空間をつなぐ集積システムのカタチ,” 電子情報通信学会Fundamentals Review, Vol.16, No.3, pp.147-155, Jan. 2023. https://doi.org/10.1587/essfr.16.3_147
1	御堂 義博, 中前 幸治, 品田 博之, 村上 恭和, “ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音除去,” 顕微鏡, vol. 55, no. 2, pp. 53-59, Sep. 2020. DOI: 10.11410/kenbikyo.55.2_53