新着情報

2016.9.16

科学技術振興機構 (JST) 戦略的創造研究推進事業(CREST) 「計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用」研究領域において、平成28年度開発課題に「AIと大規模画像処理による電子顕微鏡法の技術革新」(リーダー:九大 村上恭和)が採択されました。開発期間は2016年度から2020年度の予定です。

2010.6.28

次の論文がAnnual Report of Osaka University -Academic Achievement- 2009-2010 論文100選に採択されました。

  • Ryo Nakagaki, Toshifumi Honda and Koji Nakamae, "Automatic recognition of defect areas on a semiconductor wafer using multiple scanning electron microscope images," Meas. Sci. Technol. 20 075503 (2009)

2010.5.5

次の論文が、Measurement Science & Technology(IOP Publishing)のthe Highlights of 2009 collectionに選出されました。 http://iopscience.iop.org/0957-0233/page/Highlights%20of%202009

  • Ryo Nakagaki, Toshifumi Honda and Koji Nakamae, "Automatic recognition of defect areas on a semiconductor wafer using multiple scanning electron microscope images," Meas. Sci. Technol. 20 075503 (2009)

2009.9.7

独立行政法人科学技術振興機構 先端計測分析技術・機器開発事業の平成21年度開発課題に「超LSI故障個所解析装置ソフトウェアの開発」(リーダー:中前幸治)が採択されました。開発期間は2009年10月から2012年3月の予定です。