平成15年度 (2003年度)

論文 

  1. W. Tamamura, K. Nakamae, and H. Fujioka, "Automatic LSI Package Lead Inspection System with CCD Camera for Backside Lead Specification," IEICE Trans. Electron., E86-C, 4, pp.661-667 (April 2003).
  2. 立野善英, 中前幸治, 藤岡 弘, "少量多品種ロジックLSIの実製造デバイスデータを用いたウェーハテスト工程環境の評価:同時測定可能LSIテスタ環境とロット割付アルゴリズム", 電子情報通信学会論文誌C, J86-C, 11, pp. 1191-1201 (November 2003).
  3. K. Naoi, K. Nakamae, H. Fujioka, T. Imai, K. Sekine, N. Takeda, and T. Kubo, "Three-Dimensional Eye Movement Simulator Extracting Instantaneous Eye Movement Rotation Axes, the Plane Formed by Rotation Axes, and Innervations for Eye Muscles," IEICE Trans. Inf. & Syst., E86-D, 11, pp. 2452-2462 (November 2003).  

国際学会

  1. K. Nakamae, H. Ikeda, and H. Fujioka, "Evaluation of Final Test Process in 64-Mbit DRAM Manufacturing System through Simulation Analysis," in Proc. 14th Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (ASMC) 2003, Munich, Germany, pp. 202-207 (31 March-1 April 2003).
  2. Y. Zenda, K. Nakamae, and H. Fujioka, "Cost Optimum Embedded DRAM Design by Yield Analysis", in Proc. 2003 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (MTDT2003), San Jose, USA, pp. 20-24 (28-29 July 2003).
  3. K. Miura, T. Kobatake, K. Nakamae, and H. Fujioka, "A Low Energy FIB Processing, Repair, and Test System," in Proc. 14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2003), Bordeaux, France, pp. 1627-1631 (7-10 October 2003).
  4. A. Eto, K. Nakamae, and H. Fujioka, "Measurement of Torsional Eye Movement by Spatial Moments of Iris Pattern Image", in Proc. SPIE, Providence, USA, 5261, pp. (28-29 October 2003).  

著書

解説・その他

研究会

  1. 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡 弘, "LSI SEM画像からの微細デバイス構造認識のための統計的画像処理法", LSIテスティングシンポジウム/2003 会議録, pp. 13-18 (5-7 Nobember 2003).
  2. 善田洋平, 中前幸治, 藤岡 弘, "電子ビームテスタ環境下での組合せ回路の遅延故障診断", LSIテスティングシンポジウム/2003 会議録, pp. 189-194 (5-7 Nobember 2003).
  3. 松尾 達, 中前幸治, 藤岡 弘, "人の特性を考慮できる VLSI テスト工程シミュレータ", LSIテスティングシンポジウム/2003 会議録, pp. 201-206 (5-7 Nobember 2003).
  4. 近久真章, 中前幸治, 藤岡 弘", ウェーブレット多重解像度解析を用いたSEM観測画像からの電子ビームプロファイルの推定", LSIテスティングシンポジウム/2003 会議録, pp. 299-304 (5-7 Nobember 2003).
  5. 善田洋平, 中前幸治, 藤岡 弘, "電子ビームテスタ環境下での組み合わせ回路の遅延故障診断," 電子情報通信学会電子部品・材料(CPM)/集積回路(ICD)研究会, CPM2003-167/ICD2003-206, 信学技法, 103, 647, pp.29-34 (5 February 2004).

学術講演会

  • 栄藤 淳, 中前幸治, 藤岡 弘, "空間モーメントによる虹彩紋理画像からの眼球運動回旋成分の抽出", FIT(情報科学技術フォーラム)2003, 札幌, H-008, pp. 429-430 (10-12 September 2003).
  • 松尾 達, 中前幸治, 藤岡 弘, "人の特性を考慮できるVLSI テスト工程シミュレータ", 2003年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会, C-12-1, p. 76 (September 2003).