論文 

国際学会

  1. K. Miura, K. Nakamae, and H. Fujioka, "Development of an EB/FIB integrated test system," in Proc. 12th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2001), Bordeaux, France, pp. 1489-1494 (October 1-5, 2001).
  2. K. Nakamae, Y. Midoh, K. Miura, and H. Fujioka, “Boundary Extraction in the SEM Cross Section of LSI,” in Proc. SPIE Intelligent Robots and Computer Vision XX: Algorithms, Techniques, and Active Vision, Newton, USA, pp. 451-458 (October 29-31, 2001).

著書

  1. 藤岡 弘, 中前幸治, "テスト工程の生産性・経済性向上のための方策", 進化する半導体組立・テスト工程, EDリサーチ社, pp.69-88 (April 2001).

解説・その他

  1. 藤岡 弘, 中前幸治, "電子ビームによるLSIテスティング", 精密工学会誌, vol. 67, no. 9, pp. 1407-1411 (September 2001).  

研究会

  1. 野村和博, 中前幸治, 藤岡 弘, “CADレイアウトを考慮した組み合わせ回路のEBテスタ遅延故障位置特定アルゴリズム”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 19-24 (2001).
  2. 三浦克介, 小畠智幸, 中前幸治, 藤岡 弘, “光学顕微鏡およびFIB加工装置を利用した多層構造標準セル設計VLSIの逆設計システム”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 63-68 (2001).
  3. 織田隆之, 中前幸治, 藤岡 弘, “ウェーハテスト工程におけるウェーハ管理コード認識システム”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 181-186 (2001).
  4. 中田晴己, 中前幸治, 藤岡 弘, “VLSIウェーハ製造工程における検査プロセス戦略の経済性評価”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 239-244 (2001).
  5. 乗松幸一郎, 中前幸治, 藤岡 弘, “LSI生産戦略意志決定支援システム”, LSIテスティングシンポジウム/2001 会議録, pp. 245-250 (2001).

学術講演会

  1. 野村和博, 中前幸治, 藤岡 弘, “CADレイアウトを考慮した組み合わせ回路のEBテスタ遅延故障位置特定アルゴリズム”, 2001年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会, C-12-3, p. 64 (September 18-21, 2001).
  2. 中田晴己, 中前幸治, 藤岡 弘, “VLSIウェーハ製造工程における検査プロセス戦略の経済性評価”, 2001年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会, C-12-4, p. 65 (September 18-21, 2001).
  3. 乗松幸一郎, 中前幸治, 藤岡 弘, “LSI生産戦略意志決定支援システム”, 2001年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会, C-12-5, p. 66 (September 18-21, 2001).
  4. 織田隆之, 中前幸治, 藤岡 弘, “ウェーハテスト工程におけるウェーハ管理コード認識システム”, 2001年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会, C-12-6, p. 67 (September 18-21, 2001).
  5. 直居加奈恵, 中前幸治, 藤岡 弘, 今井貴夫, 関根和教, 武田憲昭, 久保 武, “医学応用3次元眼球運動シミュレータ”, 2001年電子情報通信学会情報システムソサイエティ大会, D-7-5, p. 55 (September 18-21, 2001).
  6. 御堂義博, 中前幸治, 藤岡 弘, “LSI断面SEM観測画像の微細形状計測アルゴリズム”, 2002年電子情報通信学会総合大会, C-12-4, p. 86 (March 27-30, 2002).