論文

  1. M. Sanada, and H. Fujioka, "Fault Diagnosis Technique for Yield Enhancement of Logic LSI Using IDDQ," IEICE Trans. Fundamentals, E83-A, 5, pp. 842-850 (May 2000).  

国際学会

  1. K. Nakamae, W. Koga, and H. Fujioka, "Effects of Operator Grouping on the VLSI Final Test Facility Layout Scale," in Proc. 11th Annual Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (ASMC 2000), Boston, USA, pp. 231-236, (September 12-14, 2000).
  2. K. Miura, K. Nakamae, and H. Fujioka, "Automatic EB Fault-Tracing System Using Fuzzy-Logic Approach," in Proc. 11th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2000), Dresden, Germany, pp. 1377-1382, (October 2-6, 2000).
  3. K. Nakamae, A. Itoh, and H. Fujioka, "Fail Pattern Classification and Analysis System of Memory Fail Bit Maps," in Proc. 4th International Conference on Modeling and Simulation of Microsystems, Hilton Head Island, USA, pp. 598-601 (March 19-21, 2001).

著書

研究会

  1. 西田裕樹, 中前幸治, 藤岡 弘, “LSI製造プロセスシミュレータによる歩留まり低下要因早期検出法の検討”, LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 17-22 (2000).
  2. 田辺光紘, 中前幸治, 藤岡 弘, “DRAMウェーハレベルCSPのシミュレーション技法による経済性評価”, LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 23-28 (2000).
  3. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡 弘, “EB・FIB統合化テストシステムの開発”, LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 76-81 (2000).
  4. 玉村 亘, 中前幸治, 藤岡 弘, “LSIパッケージリード端子自動検査システム”, LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 235-240 (2000).
  5. 渡辺麟太郎, 中前幸治, 藤岡 弘, “BGAパッケージのはんだボール検査システム”, LSIテスティングシンポジウム/2000 会議録, pp. 241-246 (2000).
  6. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡 弘, “レイアウトからの逐次回路抽出によるEB自動故障追跡システム”, 電子情報通信学会 VLSI設計技術 (VLD)/集積回路 (ICD)/フォールトトレラントシステム (FTS) 研究会, 滋賀県守山市, VLD2000-107/ICD2000-164/FTS2000-72, 信学技法, vol. 100, no. 473, pp. 227-232 (November 29-30, 2000).
  7. 田辺光紘, 中前幸治, 藤岡 弘, “DRAMウェーハレベルCSPのシミュレーション技法による経済性評価”, 電子情報通信学会 電子部品材料 (CPM)/集積回路 (ICD) 研究会, 大阪府吹田市, CPM2000-140/ICD2000-173, 信学技法, vol. 100, no. 485, pp. 35-41 (December 7-8, 2000).
  8. 三浦克介, 中前幸治, 藤岡 弘, “EB・FIB統合化テストシステムの開発”, 電子情報通信学会 電子部品材料 (CPM)/集積回路 (ICD) 研究会, 大阪府吹田市, CPM2000-144/ICD2000-177, 信学技法, vol. 100, no. 486, pp. 25-32, (December 7-8, 2000).  

学術講演会

  1. 西田裕樹, 中前幸治, 藤岡 弘, “LSI製造プロセスシミュレータによる歩留まり低下要因早期検出方の検討”, 2000年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会, C-12-5, p. 85 (September 30-October 3, 2000).
  2. 玉村 亘, 中前幸治, 藤岡 弘, “LSIパッケージリード端子自動検査システム”, 2000年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会, C-12-7, p. 87 (September 30-October 3, 2000).
  3. 渡辺麟太郎, 中前幸治, 藤岡 弘, “BGAパッケージのはんだボール検査システム”, 2000年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会, C-12-8, p. 88 (September 30-October 3, 2000).
  4. 田辺光紘, 中前幸治, 藤岡 弘, “DRAMウェーハレベルCSPのシミュレーション技法による経済性評価”, 2000年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会, C-12-39, p. 119 (September 30-October 3, 2000).
  5. 越智敬介, 中前幸治, 藤岡 弘, “ビデオカメラ画像を用いた眼球運動追跡システムのための頭部運動検出”, 2000年電子情報通信学会情報・システムソサイエティ大会, D-7-10, p. 66 (September 30-October 3, 2000).