解説・その他

  1. 藤岡 弘,"時代を変えた発想−EB計測装置の低加速化を促進;既成概 念を越えたところに飛躍あり",日経マイクロデバイス,No.107,pp. 5-6 (May 1994).
  2. 藤岡 弘,中前幸治,”電子ビームテスター (1)原理とハードウェ ア”,応用物理,技術ノート,63,6,pp. 608-609 (June 1994).
  3. 中前幸治,藤岡 弘,“電子ビーム計測 --- 超LSI微細形状の計測”, 電子顕微鏡,31,1,pp. 56-58 (1996).
  4. 中前幸治,“"その場" VLSI評価テスト支援のための逆設計システム”,生産と技術, 49, 2, pp.58-60 (April 1997).
  5. 藤岡 弘, 中前幸治,"知識ベース構築による光学顕微鏡観測画像からの標準セル設計VLSI回路認識", 画像ラボ, 9, 4, pp.35-39 (April 1998).
  6. 藤岡 弘, 岡山重夫, "装置:発展史と展望、LSI観察・評価装置", 電子顕微鏡, 35, 1, pp. 41-43 (2000).
  7. 藤岡 弘, 中前幸治, "テスト工程の生産性・経済性向上のための方策", 進化する半導体組立・テスト工程, pp.69-88 (April 2001).
  8. 藤岡 弘, 中前幸治, "電子ビームによるLSIテスティング", 精密工学会誌, vol. 67, no. 9, pp. 1407-1411 (September 2001).
  9. 藤岡 弘, "情報科学研究科情報システム工学専攻集積システム診断学講座", 生産と技術, 55, 1 (January 2003).
  10. 中前幸治, "超LSI故障個所解析装置の開発", 季刊誌 生産と技術, 第61巻, 第2号, pp. 68-71 (2009).
  11. 二川清, 山下将嗣, 大谷知行, 斗内政吉, 村上博成, 金鮮美, 中前幸治, 三浦克介, 御堂義博, 松本徹, 青木芳充, 井上彰二, 永石竜起, 酒井哲哉, "LSI 故障解析の新手法―レーザSQUID 法とレーザテラヘルツ法の複合的利用:外部電力・外部信号不用な電気的解析法―", クリーンテクノロジー, 日本工業出版, no. 12 (Dec. 2009).